DRK8024B Mikwoskopik Fizyon Point Aparèy

Detèmine pwen k ap fonn sibstans la. Li se sitou itilize pou detèminasyon nan konpoze òganik cristalline tankou dwòg, pwodui chimik, tekstil, koloran, pafen, elatriye, ak obsèvasyon mikwoskòp. Li ka detèmine pa metòd kapilè oswa metòd vè glise-kouvri (metòd etap cho).

Paramèt teknik prensipal yo:
Ranje mezi pwen k ap fonn: tanperati chanm nan 320 ° C
Repetibilite mezi: ± 1 ℃ (lè <200 ℃)
± 2 ° C (nan 20.0 ° C a 320 ° C)
Minimòm ekspozisyon tanperati: 0.1 ℃

Metòd obsèvasyon pwen k ap fonn: mikwoskòp binokilè

Agrandisman optik 40-100X